The New Patented Probe contacting OSP on ICT and FCT Testing Technology - called SuperProbes - offers advanced contacting solution for Electrical Testing.

SuperProbes Patented Technology provides advantages on every aspect of electrical testing compared to traditional probe contacting solutions

  • Solution for OSP Contacting
  • Allows more OSP Technology on SMT Lines
  • More OSP - More Saving
  • Very Long Life Cycle on OSP
  • Prevents contamination to enter inside SuperProbes
  • Almost No Wobble - ideal choise for small Test Pads
  • 50-80% Increased Hitting Accuracy
  • Extremely Low average Resistance 5-8mQ
  • More Accurate Testing Results
  • Better Products - Better Brand Image - More Orders
  • Less Repair - Station Work
  • Less Maintenance - Reduced Costs
  • Reduced need for Retest - Less Crack on Solder Pads
  • Less X-Ray Machine Investment - Huge Saving
  • Can be used as interface probe on ICT and FCT Testers, as low resistance creates better test results - Better Testers

SuperProbes Extended version

Test engineers of companies like Harman International turn to Equip Test to improve testing productivity thanks to SuperProbe. If you want to know more, we can set up a time for a call or email:


Quick5 In-Line Handler provides Small Footprint, High-Speed and No Extra Fixture Cost, as existing fixtures of MFS - D3 Series can be used on this handler!
Ensuring 15-40% Savings compared to other traditional handler platforms. So if you use our TRIO Offline ICT Tester with MFS-D3 Fixture Kits just need to move your existing exchangeable Kit into this Handler and can increase your output to 3- 5x more compared to traditional offline testing method!
With no Extra Fixture cost!
More advantages: Latest Technology. No PLC so no Annual License Fee
Dual Stage option
800 Test Points
PXI, LXI, VXI welcomed
Integration w Functional or ICT Testers.


  • 100%空気圧で作動
  • 自動開閉カバー
  • 2つの独立して操作されるカバーユニット
  • 機能テスト、End-of-LineテストおよびICTテスト
  • 無線周波数テスト
  • 最大力1000N
  • 移動および持ち上げ用のAlum-A-Gripハンドル

TRIO テストシステム

新しいTRIOプラットフォームの特筆すべき点は、シングルまたはデュアルアクセスのEquip-Test Mechanical Test Fixture(MFS)と高速TRI Tiny SIIICTです。 これらの主な機能とエクイップ・テスト社のエンジニアリングの知識を組み合わせることで、アナログおよびデジタル測定用の非常に優れたICTテストシステムを確実に稼働させることができます。  


LEDプローブは、光学業界で光学測定信号を可能な限り正確かつ歪みなく転送するための重要な手段を提供します。 この新しい製品ファミリは、オンデマンドでさまざまな顧客アプリケーションをサポートします。このため、Equip-Testは、最高の品質と価値を備えた高性能LEDプローブを提供し、顧客のROI(投資収益率)を最大化することができます。


新しい単一のホールのEquip-TestMechanical Test Fixture(MFS)は、最も要求の厳しい回路内および機能テストの課題に準拠しています。 インターフェースプレートカバーはフィクスチャの背面に配置されており、お客様の要件に応じて自由にカスタマイズできます。 堅牢な設計により、このフィクスチャは湾曲の問題なしに最大1000テストポイントを簡単に処理できます。


外部信号干渉に対する完全な保護。 最大99.7dBの高アイソレーション。 すべての一般的な無線周波数帯域をカバーするために、400 MHz〜6GHzの対応が可能です。 頑丈なアルミニウムブロックを基にした頑丈で信頼性の高い構造。 完全に取り外し可能な底板により、簡単で効果的な配線が可能になります。 無線周波数を広いレンジで正確に測定できます。 無線周波数環境を拡張するための拡張可能なチャンバーが使用できます。 大きなケーブルアクセスプレート、取り外し可能でカスタマイズが簡単です。